Close
Оценка возможности достижения технологического лидерства России в зеркале патентного анализа: научное издание
Дисциплина: Патентоведение
Москва: Дело, 2017
Объем: 77 стр.
ISBN: 978-5-7749-1222-3
УДК: 001.8
ББК: 72.4
Постраничный просмотр для данной книги Вам недоступен.
Рекомендации материалов по теме: нет